功率級硬件在環(huán)(pHIL)測試是對傳統(tǒng)信號級HIL測試的擴展，包括在閉環(huán)仿真器中測試EV牽引逆變器中的電力電子電路。通過模擬EV動力總成中的電源組件，牽引逆變器驗證工程師可以將其測試能力進行擴展，以在受控環(huán)境中安全地覆蓋更廣泛的測試場景和故障類型。
相對于測功機測試，pHIL測試是一種成本較低的替代方案，可減少對EV電機的需求。此外，pHIL測試還可以復(fù)制難以通過車載測試輕松實現(xiàn)的場景（例如，單個車輪在結(jié)冰的道路上打滑）?？焖俚孪到y(tǒng)，以管理迅速發(fā)展的DUT并滿足上市時間要求。
客戶需求01. 在所有四個象限中，以全功率仿真PMSM或感應(yīng)電機的所有特性。
02. 以100 kHz或更快的循環(huán)速率運行電機和電氣模型，以便達到足夠高的模型精度，從而通過仿真測試逆變器。
03. 使用現(xiàn)有的模型、工具和工作流程快速部署。測試系統(tǒng)需要快速投入運行，以滿足緊迫的交付時間表。
04. 對硬件進行故障插入，測試開路和短路；對軟件進行故障插入，測試網(wǎng)絡(luò)消息。
D&V和NI解決方案
01. NI PXI高速串行模塊可使用光纖線纜將FPGA直接連接到D＆V仿真器，確保在必要的循環(huán)速率下實現(xiàn)全功率并進行操作。
02. 隨時將來自各種電氣建模環(huán)境（如SimPowerSystems、PSIM和Multisim）的模型直接部署到NI FPGA PXI模塊，以重復(fù)使用現(xiàn)有模型并加速開發(fā)。
03. 開路、短路和接地硬件故障插入由NI SLSC或D＆V仿真器實現(xiàn)，而軟件故障則直接在FPGA中實現(xiàn)。
D＆V的優(yōu)勢
- 循環(huán)電機仿真器的占地面積更小，可降低運營成本- 通過可擴展的I/O和電力電子設(shè)備，使測試系統(tǒng)適應(yīng)未來發(fā)展- 利用D＆V集成專業(yè)知識，縮短首次測試時間
D&V電子設(shè)備pHIL逆變器測試結(jié)構(gòu)框圖
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