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德國(guó)Peiker公司使用多標(biāo)準(zhǔn)并行RF校準(zhǔn)和驗(yàn)證系統(tǒng)降低無線設(shè)備測(cè)試的成本

2018-02-27 15:12:45·  
　
通過更快速的測(cè)量和更低的資本成本，NI無線測(cè)試系統(tǒng)幫助我們降低了超過25％的測(cè)試成本。 我們能夠在同一個(gè)裝置上運(yùn)用多種無線技術(shù)來并行測(cè)試四個(gè)設(shè)備，其中每個(gè)設(shè)備均具有三個(gè)天線端口。- Enrique Gutierrez,peiker acustic GmbH挑戰(zhàn):開發(fā)一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)來編程、校準(zhǔn)和驗(yàn)證無線網(wǎng)絡(luò)接入設(shè)備(NAD)，系統(tǒng)要求具有快速測(cè)試
 "通過更快速的測(cè)量和更低的資本成本，NI無線測(cè)試系統(tǒng)幫助我們降低了超過25％的測(cè)試成本。 我們能夠在同一個(gè)裝置上運(yùn)用多種無線技術(shù)來并行測(cè)試四個(gè)設(shè)備，其中每個(gè)設(shè)備均具有三個(gè)天線端口。"
- Enrique Gutierrez, peiker acustic GmbH 
挑戰(zhàn):

開發(fā)一個(gè)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)來編程、校準(zhǔn)和驗(yàn)證無線網(wǎng)絡(luò)接入設(shè)備(NAD)，系統(tǒng)要求具有快速測(cè)試能力來處理大量設(shè)備，同時(shí)還要求具有小尺寸來順利將測(cè)試儀集成到生產(chǎn)線。
 
解決方案:

將NI無線測(cè)試系統(tǒng)(WTS)集成到NOFFZ UTP 9085測(cè)試儀，實(shí)現(xiàn)一個(gè)可通過一個(gè)測(cè)試臺(tái)并行校準(zhǔn)和驗(yàn)證四個(gè)或八個(gè)待測(cè)設(shè)備的系統(tǒng)。
   
作者:
Enrique Gutierrez - peiker acustic GmbH 
Markus Solbach - NOFFZ ComputerTechnik GmbH Tempelsweg 24a 
Dirk Eyckmanns-Wolters - NOFFZ ComputerTechnik GmbH
 
一個(gè)可校準(zhǔn)、驗(yàn)證和封裝的可重配置測(cè)試臺(tái)
 
peiker是行業(yè)領(lǐng)先的NAD制造商，為汽車與環(huán)境之間的交互提供了可靠、快速的數(shù)據(jù)交換。 公司的客戶使用這些模塊來支持各種應(yīng)用（比如可報(bào)告事故地點(diǎn)的緊急呼叫系統(tǒng)），并通過通用移動(dòng)通信系統(tǒng)(UMTS)和LTE無線電來建立車載高速互聯(lián)網(wǎng)連接。
 
對(duì)于制造測(cè)試，peiker采用了NOFFZ UTP9085批量制造測(cè)試解決方案，該方案將生產(chǎn)線的所有步驟集成到一個(gè)系統(tǒng)中。 該系統(tǒng)可支持多個(gè)并行配置、校準(zhǔn)和驗(yàn)證以及后續(xù)的全自動(dòng)化封裝。 測(cè)試系統(tǒng)可通過一個(gè)閃存站同時(shí)配置8個(gè)NAD測(cè)試對(duì)象，并通過一個(gè)校準(zhǔn)和驗(yàn)證站同時(shí)配置4個(gè)NAD測(cè)試對(duì)象。 此外，測(cè)試系統(tǒng)本身集成到peiker現(xiàn)有測(cè)試基礎(chǔ)設(shè)施中，其中包括有內(nèi)部追溯軟件和生產(chǎn)管理軟件。
 
NOFFZ UTP 9085測(cè)試解決方案的一個(gè)重要組件是NI無線測(cè)試系統(tǒng)(WTS)。 該系統(tǒng)具有出色的測(cè)量速度，這對(duì)于降低測(cè)試時(shí)間和成本至關(guān)重要。 此外，由于WTS內(nèi)部包含了兩個(gè)NI矢量信號(hào)收發(fā)儀(VST)，系統(tǒng)能夠同時(shí)執(zhí)行模塊校準(zhǔn)和驗(yàn)證任務(wù)。
 

 
圖1.配有集成WTS的NOFFZ UTP 9085可用于并行RF校準(zhǔn)/驗(yàn)證
 
圖2. NI TestStand 操作界面
 
測(cè)試的基本執(zhí)行步驟如下：
  1. 托盤上插入60個(gè)LTE NAD模塊。
  2. 執(zhí)行位置測(cè)試和條形碼掃描。
  3. 一個(gè)多閃存站同時(shí)閃存多個(gè)待測(cè)設(shè)備。
  4. 模塊插入裝有WTS的校準(zhǔn)站。
  5. 如果要驗(yàn)證RF校準(zhǔn)結(jié)果，可從一個(gè)RF測(cè)試艙中取出校準(zhǔn)后的LTE NAD模塊插入到另一個(gè)RF測(cè)試艙中。
  6. 如果模塊順利通過配置、校準(zhǔn)和驗(yàn)證流程，則模塊進(jìn)入到封裝部分，采用透明氣泡熱縮塑膠包裝。
  7. 如果發(fā)生錯(cuò)誤，則模塊無法進(jìn)入下一流程。
圖3.60個(gè)LTE NAD模塊插入托盤中
 
硬件和軟件
 
我們通過一臺(tái)西門子IPC647D工業(yè)觸摸屏計(jì)算機(jī)來控制測(cè)試系統(tǒng)。 該計(jì)算機(jī)分成兩個(gè)站：
  1. 閃存站是基于PXI系統(tǒng)，其中包含了八個(gè)PXI-4110可編程電源、一個(gè)用于測(cè)量工作電流的PXI-6225DAQ板卡以及兩個(gè)用于DUT插入、極性測(cè)試和I/O測(cè)試的 PXI-6509數(shù)字I/O模塊。
  2. RF校準(zhǔn)和驗(yàn)證站包含了WTS，提供了雙VST選項(xiàng)。
為了滿足peiker標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試時(shí)間表，我們將以下功能部署到閃存、校準(zhǔn)和驗(yàn)證站：
 
閃存站
  • 掃描序列號(hào)（代碼取決于夾持器）
  • 測(cè)試對(duì)象是否插入？
  • 適配器是否閉合？
  • 是否允許閃存？ (iTAC)
  • 極性測(cè)試/短路測(cè)試
  • 電流測(cè)量
  • I/O測(cè)試
  • USB編程
  • 電壓測(cè)量
  • 重置
  • QCN安裝
  • 重置
  • IMEI (iTAC)
校準(zhǔn)/驗(yàn)證站
  • 掃描序列號(hào)（代碼取決于夾持器）
  • 測(cè)試對(duì)象是否插入？
  • 適配器是否閉合？
  • 極性測(cè)試/短路測(cè)試
  • 電流測(cè)量
  • 讀取軟件數(shù)據(jù)
  • SIM卡測(cè)試
  • 讀取IMEI數(shù)據(jù)
  • 是否允許校準(zhǔn)？ (iTAC)
  • RF校準(zhǔn)是基于NI的校準(zhǔn)參考序列
  • RF驗(yàn)證是基于NI參考序列，包括GPS RF測(cè)試
圖4展示了整個(gè)工廠布局概念，其中左邊是托盤插入，左后方是閃存站，中間是校準(zhǔn)和驗(yàn)證站，右前方是NIO放電和封裝單元。
 

 
圖4. 工廠布局圖
 
結(jié)論
peiker將NI的集成測(cè)試技術(shù)和NOFFZ無縫集成到生產(chǎn)線中，降低了無線設(shè)備測(cè)試的成本。 公司計(jì)劃未來將這些系統(tǒng)的應(yīng)用擴(kuò)展至每年超過500,000個(gè)模塊。
 
圖5.最終系統(tǒng)實(shí)現(xiàn) 
 
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