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SEMD系列屏蔽效能測(cè)試系統(tǒng)可以對(duì)薄片狀材料或者膠片狀材料進(jìn)行簡(jiǎn)單方便的屏蔽效能測(cè)試。
花費(fèi)時(shí)間短、簡(jiǎn)單易行的屏蔽材料的測(cè)試系統(tǒng)！
特點(diǎn)
●不需要對(duì)測(cè)試材料進(jìn)行復(fù)雜的加工
●把被測(cè)材料放入測(cè)試夾具夾好即可，測(cè)試簡(jiǎn)單易行
●可以覆蓋100kHz～1GHz, 1GHz～6GHz的寬帶頻率
●使用SEMS屏蔽效能測(cè)試軟件，可以進(jìn)行自動(dòng)化屏蔽效能測(cè)試測(cè)定
●集成網(wǎng)絡(luò)分析儀和測(cè)試軟件，提供整體測(cè)試系統(tǒng)解決方案
測(cè)試方法：
※KEC-1G 型附帶磁場(chǎng)夾具
| SEMD-1G | SEMD-6G | ||
| 頻率范圍 | 穿透損耗 | 100kHz～1GHz | 1GHz～6GHz |
| 最大輸入電平 | 磁場(chǎng)：10mW以下 | 與接收設(shè)備的安全輸入電平相關(guān) | |
| 動(dòng)態(tài)范圍 | 穿透損耗 | 與穿透損耗、輸入電平以及接收設(shè)備的測(cè)試限值相關(guān) | |
| 輸入輸出接頭類型 | N型母口（50Ω） | ||
| 可測(cè)試材料尺寸 | 穿透損耗 | 約110x100mm～ 厚度6mm以下 | 約30-50mm矩形 厚度1mm以下 |
| 尺寸/外觀 | 尺寸 | 尺寸：W350xD350xH500（凸起部分外）重量：約25kg | 尺寸：W300xD350xH350（凸起部分外） 重量：約20kg |
| 外觀 |
主體：S45C鍍鎳
底座：S45C黑色處理 |
頂板：S45C鍍鎳
側(cè)面：防腐蝕鋁材（黑色） |
|
| 結(jié)構(gòu) | 頂板夾具式擰緊固定 | 搖柄式擰緊固定 | |
| 附屬品 | 驗(yàn)證空板：1張※1 | 驗(yàn)證空板：1張※1 | |
| 厚度校準(zhǔn)板：每個(gè)厚度3張※2 | |||
| 可以整合網(wǎng)絡(luò)分析儀、測(cè)試軟件提供整套測(cè)試系統(tǒng)。 | |||
※1 驗(yàn)證空板：1張（測(cè)試穿透損耗時(shí)，用來(lái)驗(yàn)證動(dòng)態(tài)范圍）
※2 電場(chǎng)：厚度分別是1，2，3mm/磁場(chǎng)：1，2，3mm
測(cè)試應(yīng)用：
