隨著我們對電子電器類的產品依賴性不斷增強,從而對電子產品的持久性和可靠性也不斷有了更高的要求;所以對于如何提高這些就成了人們比較關注的話題,而電子元器件的的失效分析也就成為最重要的部分。
東電檢測實驗室推出的失效分析服務項目,目的就是幫忙客戶找出失效原因,排查客戶產品的風險問題,從而提升產品質量。接下來,就讓小編帶您走進失效分析的實驗室......
金相分析是檢驗分析材料的手段之一,旨在揭示材料的真實結構。要進行金相分析,就必須制備能用于微觀觀察檢驗的樣品——金相試樣。
Microscopic observation laboratory
金相分析是研究金屬及其合金內部組織及缺陷的主要方法之一,它在金屬材料領域具有重要地位。利用金相顯微鏡在制備的試樣上放大100~2000倍來研究金屬及合金組織的方法稱為金相顯微分析法,是研究金屬材料微觀結構最基本的一種實驗。顯微分析可以研究金屬及合金的組織與其化學成分的關系;確定各類合金材料經過不同的加工及熱處理后的顯微組織;可以判別金屬材料的質量優(yōu)劣,例如如各種非金屬夾雜物--氧化物、硫化物等在組織中的數(shù)量及分布情況以及金屬晶粒度的大小等。
掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射TEM電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。
離子研磨儀-CP( Cross section Polisher)作為掃描電鏡樣品前處理工具,可以將樣品進行無應力加工并得到一個平整表面。截面研磨用離子束轟擊樣品,加工出無應力損傷的截面,為 SEM 觀察樣品的內部 多層結構、層厚測量、結晶狀態(tài)、異物解析等提供有效的樣品前處理方法。
Nondestructive testing laboratory
聲學掃描顯微鏡(SAM)是一種多功能、高分辨率的顯微成像儀器,兼具電子顯微術高分辨率和聲學顯微術非破壞性內部成像的特點, 被廣泛的應用在物料檢測(IQC)、失效分析(FA)、質量控制(QC)、質量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領域,可以檢測材料內部的晶格結構、雜質顆粒、內部裂紋、分層缺陷、空洞、氣泡、空隙等,為司法鑒定提供客觀公正的微觀依據。
X-ray檢測儀是在不損壞被檢物品的前提下使用低能量X 光,快速檢測出被檢物。利用高電壓撞擊靶材產生X射線穿透來檢測電子元器件、半導體封裝產品內部結構構造品質、以及SMT各類型焊點焊接質量等
Foreign body component analysis
Morphology observation and measurement
公司(簡稱“東電檢測”)座落于東莞市松山湖高新產業(yè)園,隸屬于電子科技大學廣東電子信息工程研究院(簡稱“電研院”),是電研院孵化企業(yè)。
√ 獲得CNAS, A2LA, CBTL,NVLAP, UKAS等40多項資質。
√ 覆蓋電磁兼容、環(huán)境可靠性、射頻、電氣安全、汽車電子、電池、聲學、能效檢測等領域。
√ 涵蓋50多個國家和地區(qū)的70多項認證服務。
√ 10年產品認證經驗專業(yè)的國際認證團隊。
√ 檢測產品范圍:信息技術產品、音視頻產品、燈具照明產品、汽車電子產品、無線與通訊產品、家電產品、工業(yè)產品、安防產品等。