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第4代SiC MOSFET的應用優(yōu)勢

2022-05-02 13:08:37·  來源:驅動視界  
 
電動汽車(EV)、數(shù)據(jù)中心、基站、智能電網(wǎng)等為了提高便利性,電源的高電壓化和大容量化正在進行中。然而,從保護地球環(huán)境的角度來看,提高便利性之外,減少電力

電動汽車(EV)、數(shù)據(jù)中心、基站、智能電網(wǎng)等為了提高便利性,電源的高電壓化和大容量化正在進行中。

然而,從保護地球環(huán)境的角度來看,提高便利性之外,減少電力轉換時的損失、有效地使用也變得越來越重要。因此,能夠進行高頻動作、并且高電壓大容量能量損失少的 SiC功率半導體備受關注。

羅姆發(fā)布了第4代SiC MOSFET,是第3代SiC MOSFET的溝槽柵結構進一步演進,將導通電阻降低約40%,開關損失降低約50%。

在試驗中,使用第4代SiC MOSFET,進行了500V輸入7kW降壓型DC-DC轉換器的實機驗證、EV 的800V輸入100kW的牽引逆變器的模擬行駛試驗、以及Totem-pole PFC的實機評價,確認了其有用性,特此報告。

1、序言

目前,電動汽車(EV)、數(shù)據(jù)中心、基站、智能電網(wǎng)等應用,電源的高電壓和大容量趨勢正在進行(Figure 1)。

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Figure 1. 應用例

理由是可以提高各個應用的便利性。作為身邊例子的EV,如果推進高電壓化(400V 和 800V)和大容量化(50kW-350kW),能實現(xiàn)續(xù)航距離的延長和快速充電時間的縮短,能大幅度提高人們生活的便利性。

然而,在世界范圍內,保護地球環(huán)境的努力正在加強,單純地提高便利性是不會被全球市場所接受的。今后除了便利性的提高之外,減少能源損失、有效的使用也會變得越來越重要,因此應該注意的點是電力轉換。

上述的應用都是從電力系統(tǒng)、電池、太陽光發(fā)電系統(tǒng)等接受電力供給,轉換成最適合的電壓值并有效利用,但是在這個電力轉換時會發(fā)生能量損失。為了減少能量損失,提高電力轉換效率,現(xiàn)在備受矚目的是能夠進行高頻動作,并且在高電壓、大容量下能量損失較少的SiC功率半導體。

這次羅姆發(fā)布了第4代 SiC MOSFET。進一步進化了已經(jīng)量產(chǎn)中的第3代SiC MOSFET確立的溝槽柵結構,比第3代降低了約40%的導通電阻,由于高速切換特性造成的開關損失也減少了約50%。Figure 2所示的標準化導通電阻(Ron-A:每單位面積導通電阻)的趨勢顯示了它的進化。

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Figure 2. 導通電阻的趨勢圖

本文第2章中,說明作為基本的降壓型DC-DC轉換器中第4代SiC MOSFET對轉換器效率改善有怎樣的貢獻。

說明開關損耗、導通損耗、體二極管損耗、恢復損耗等發(fā)生機制,說明在轉換器中使用優(yōu)秀的第4代SiC MOSFET時降低損耗的效果。 

在第3章中,作為具體的應用例,說明面向EV的功率解決方案,EV的電力轉換由OBC(On Board Charger)、輔助用絕緣DC-DC、升壓 DC-DC、牽引逆變器等構成。

特別是,關于牽引逆變器,導入馬達測試臺進行模擬行駛試驗,以說明第4代SiC MOSFET的特性如何與用戶利益相關聯(lián)。另外,對于構成OBC的Totem-pole PFC,也將在實際電路板上說明第4代SiCMOSFET對于轉換器特性的提升。

2、降壓型 DC-DC 轉換器中第4代 SiC MOSFET

2.1 電路動作原理與損耗解析

對于第3代、第4代SiC MOSFET的開關速度特別有改善。這對減少開關損耗有很大貢獻。Figure 3(a)中表示降壓型轉換器的框圖,(b)中表示轉換器的開關整體的外觀波形。

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(a) 降壓型 DC-DC 轉換器模塊圖

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(b)主要開關外觀波形

Figure 3. 降壓型 DC-DC 轉換器(半橋)

如 Figure 3(b)所示,轉換器中功率器件的損耗包括開關損耗、導通損耗、體二極管損耗、恢復損耗、Coss 損耗。(Coss 損失較小,故圖中未標注出來) 

關于開關損耗,通常是把單個脈沖的Eon、Eoff能量數(shù)據(jù)記載在Datesheet中,因此在初期設計階段進行粗略的損失估計時是很方便的指標。在詳細設計中,必須嚴格算出高電壓輸入時高頻時的損耗。

柵極電壓值、柵極驅動器的漏源電阻值、外置柵極電阻值等數(shù)Ω的值會在數(shù)ns(納秒)的級別上影響開關時間(Trise/Tfall),使損耗發(fā)生了很大的變化,因此進行該柵極驅動器的最佳設計與能否充分利用SiC的高速開關特性緊密相連。開關損耗僅發(fā)生在高邊 FET(SH)上,以公式(1)表示。下面對其機制進行說明。

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在State 1中,柵極電壓VGS被施加到高側FET(SH)的SiC MOSFET上,并在State 2 中超過閾值 VGS(th)時,電感器電流開始快速流向SH的通道,直至VGS(on)(Plato 電壓)為止,僅幾ns即可到達負載電流 Io。

然后,在State 3(平臺期間)之間通道打開,VDS達到0V。該State 2和State 3的期間為式(2)所示的導通時的開關時間Trise。式(2)中,State 2的電荷量由于通常 Datessheet中沒有記載,所以從Qgs推定,通過設定系數(shù)k調整(通常k是 1/3-1/4)。

柵極電流Igon是由柵極驅動器電壓VGS和柵極導通電壓VGS(on)的電位差和介入其中的電阻部分決定的,所以用式(3)給出。公式中,Rsrc是柵極驅動器的源電阻,Rgext 為外置柵極電阻、Rgint 表示SiC MOSFET內部柵極電阻。

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(State 4 在后面進行說明)

柵極電壓降低,進入關斷狀態(tài)(State 5-6)。這個Tfall期間用公式(4)表示。注意點是Tfall時段的柵極電流Igoff如式(5)所示,分子只有VGS(on)。一般來說,關斷時間會更長一些。式中,Rsnk是同步電阻。

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當是電感負載那樣的恒流源時,電流波形ID和電壓波形VDS變化的時間不重疊,因此式(1)的開關損耗Psw的系數(shù)為 1/2。另外,在該Trise期間,由于漏源極間容量CossH 中儲存的電荷在溝道處短路,會產(chǎn)生充放電損耗PcossH(式(6))。

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在State 4中高邊FET(SH)完全開啟的期間發(fā)生導通損失PcondH(式(7))。此時的有效電流,時比D(=Vo/Vin)通過公式(8)給出。

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以上是高邊FET(SH)處產(chǎn)生的開關損耗、導通損耗、Coss 損耗。

以下是、低邊FET(SL)處產(chǎn)生的損耗。

State 7、State 11以及State 1是死區(qū)時間期間。低邊FET(SL)的體二極管的導通電流會產(chǎn)生損耗(式(9)。

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State 8-10產(chǎn)生低邊FET(SL)的導通損耗(式(10))。此時,實效電流通過公式(11)給出。

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低邊FET(SL)的Coss的充放電損耗,在SL Turn on時(State 8)Coss已經(jīng)被電感電流IL已經(jīng)放電,為ZVS狀態(tài)(Zero Voltage Switching),因此通常忽略。

以上是低邊FET(SL)處產(chǎn)生的損耗。

在此說明恢復損耗PQrr。發(fā)生的時間是State 3,是由于低邊SL的體二極管的恢復引起的損耗(式(12))。這個損耗由高邊FET(SH)和低邊 FET(SL)分擔,為了方便此處合并到高邊。

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綜上所述,高邊FET(SH)和低邊FET(SL)的綜合損耗分別由式(13)和式(14)給出。

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特別是關于開關損耗Psw,根據(jù)式(2)和(4),Qgd(對柵極-漏極間電容的米勒平臺充電所需的電荷量)越小,Trise/Tfall的時間越短,式(1)的開關損耗Psw被降低。第4代SiC MOSFET相對于第3代Qgd降低了約一半,因此可以減少開關損耗。對轉換器的開關頻率高頻化,負載變化率大,平均來說輕負載運轉較多的EV有降低損耗的效果。結果導致續(xù)航距離的延長和運行成本的降低,這是使用第4代SiC MOSFET的最大優(yōu)點。

2.2 DC-DC 轉換器的實機驗證

為了確認這點,我們組成下述規(guī)格的降圧型DC-DC轉換器進行了實機驗證。Table 1是 DC-DC轉換器和SiC器件的各項參數(shù)。用于調整開關速度的外置柵極電阻Rg_ext的數(shù)值在權衡了高速開關、振鈴以及尖峰之后,取值為3.3Ω。Figure 4 是 (a) DC-DC轉換器電路和 (b)半橋部分所用的第4世代SiC MOSFET的評估板(內置去偶電容),電感L、輸出電容Co 和輸入Bulk電容為外置。

Table 1. DC-DC 轉換器規(guī)格、SiC 器件各項規(guī)格

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Figure 4. 實機驗證用降圧型 DC-DC 轉換器電路和第 4 世代 SiC MOSFET 評估板

Figure 5是50kHz情況下的Turn on時/Turn off時的VGS、VDS, ID波形。

左側是Turn on時的波形放大。波形可觀測到Turn on時上升時間Trise約20ns,非常的高速。Figure 6是該DC-DC轉換器的效率、損耗的測定結果。輕負載(1kW 附近)時,作為固定損耗的開關損耗,由于第4世代SiC MOSFET開關損耗較小的特征,發(fā)揮了顯著的作用。而重負載(5kW 附近)時,第4世代相對于第3世代損耗也改善了15W以上。

Figure 7是轉換器損耗的詳細理論解析結果,這證明了損耗確實有大約15W的改善。而且,高邊FET(SH)的開關損耗和恢復損耗PQrr也大幅降低,這也有助于改善整體損耗。

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Figure 5. 實測開關波形(500Vin, 250Vo/20A(5kW), 50kHz)

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Figure 6. 效率、損耗的測定結果(500Vin, 250Vo/7kW, 50kHz)

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Figure 7. 損耗分析結果(計算值)(左:2kW、右:5kW)

3、EV 應用

EV也有多種形態(tài),如Figure 8所示,有BEV、HEV、PHEV、Series HEV等,根據(jù)彼此的用途,功率、體系結構各有不同。在這當中,最近受到關注的是BEV的雙方向/急速充電中的400V電池電圧型或800V電池電壓型。

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Figure 8. 各種 EV 形態(tài)

Figure 9所示的是BEV的功率/體系結構的電路結構示例。對于OBC(On Board Charger)和V2G(Vehicle To Grid)來說,雙方向Totem-pole PFC和雙方向CLLC(對稱型 LLC)是熱門的電路拓撲。該OBC的輸出會用于供應輔助用DC-DC轉換器、電池、逆變器電圧升圧、以及主機牽引逆變器的供電。

3.1 章說明的是牽引逆變器的基本動作,以及EV的評價系統(tǒng)(電機試驗臺的試驗環(huán)境)。以此可以根據(jù)乘用車的油耗測試方法WTLC來進行模擬行駛仿真,以此來介紹第4世代SiC MOSFE可帶來的電費改善度。

3.2 章介紹的是在OBC雙方向Totem-polePFC 中使用了第4世代SiC MOSFET情況下的實驗結果。

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Figure 9. BEV 功率?體系結構舉例

3.1 牽引逆變器的模擬行車試驗

 [1] 逆變器電路動作

隨著機電一體化(電機、減速機、逆變器)的推進,為實現(xiàn)高電壓/高輸出且小型化的輕量逆變器,低損耗的重要度日益上升。這是因為這與EV的耗電能力有直接關系。

如 Figure 10所示,牽引逆變器為了驅動動力總成內的電機,將電池中儲備的直流電力轉變?yōu)?相交流電力。逆變器由三個半橋結構(1 leg),即3 leg來構成。三相交流波形由頻率與電機轉速同步的信號波(參考正弦波)設定,三角波(調制波)由決定開關頻率的載波頻率設定。電機的供電電壓是通過在產(chǎn)生PWM信號時改變三相交流電和三角波的電平來實現(xiàn)的。

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Figure 10. 一般的逆變器電路結構和驅動信號

[2] 電機試驗臺試驗環(huán)境

Table 2所示的是電機試驗臺和測試用逆變器所搭載的SiC器件的主要參數(shù)。測試用逆變器使用了2in1功率模塊,該模塊搭載了第4世代SiC MOSFET晶圓芯片。

Figure 11所示的是電機試驗臺的試驗環(huán)境,F(xiàn)igure 12所示的是測試用逆變器(DUT Inverter),F(xiàn)igure 13所示的是控制系統(tǒng)模塊圖。測試用逆變器通過3相UVW動力線來驅動測試電機。測試電機與負載電機相連接,負載電機根據(jù)車輛參數(shù)演算得出行駛阻力控制負載轉矩,從而實現(xiàn)所希望的車輛參數(shù)條件下的模擬行駛實驗。這里正如Figure 14 以及式(15)-(18)所示,行駛阻力包含空氣阻力FAD、轉動阻力FRR、梯度阻力FRG、加速阻力FACC。

Table 2. 電機試驗臺和試用逆變器的主要參數(shù)

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Figure 11. 電機試驗臺試驗環(huán)境

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Figure 12. 試用逆變器(DUT Inverter)

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Figure 13. 電機試驗臺?控制系統(tǒng)模塊圖

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Figure 14. 行車阻力

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Cd:空氣阻力系數(shù) , A:正面投影面積 , ρ: 干燥空氣密度, v:車速, μ:滾動阻力系數(shù) , m:車身重量, Δm:旋轉身體的等價慣 性質量, α:加速度, g:重力加速度, θ:車輛和路面的夾角。

[3] 模擬駕駛的國際規(guī)格 WLTC 模式燃效測試

Figure 15所示的 WLTC (Worldwide harmonized Light duty driving Test Cycle,全球統(tǒng)一輕型車輛測試循環(huán))是由聯(lián)合國歐洲經(jīng)濟委員會在 2014 年召開的第 162 屆世界汽車標準協(xié)調論壇(WP29)上公布的世界統(tǒng)一技術規(guī)則 GTR(Global Technical Regulation)所采納的轎車等的排放氣體、燃料消耗量測試法(WLTP: Worldwide harmonized Light vehicles Test Procedure)中規(guī)定的駕駛循環(huán)。

這個循環(huán)由Low、Middle、High、Extra-High速度階段構成,在日本除了Extra-High 階段以外,測試車輛通過行駛循環(huán)進行排放氣體和油耗的測量。

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Figure 15. WLTC(全球統(tǒng)一輕型車輛測試循環(huán))的概要

羅姆使用前述的馬達測試臺,通過輸入WLTC行駛循環(huán)的模擬行駛試驗條件,對逆變器進行了采用第四代SiC MOSFET和IGBT時的行駛電費試驗。

假設C級EV的電費試驗結果如Figure 16所示。在 WLTC行駛循環(huán)的全速度階段,都可通過用第四代SiC-MOSFET代替?zhèn)鹘y(tǒng)的IGBT來改善電費??傠娰M與IGBT相比約改善6%,市區(qū)模式約改善10%。 

作為參考,在Figure 17顯示了逆變器效率Map圖 (以NT 曲線為基礎加入了效率的信息)。從這個結果也可以看出,在市區(qū)行駛中頻繁出現(xiàn)的高扭矩、低轉速區(qū)域的效率大幅改善。

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Figure 16. 電費試驗結果

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Figure 17. WLTC 燃效測試中的逆變器效率圖

下面展示電費測試中6%-10%的性能提升如何為用戶帶來收益。用相對于行駛距離的運行成本(電費)和搭載電池容量的削減來考慮的話就容易理解了。如Table 3所示,與IGBT 相比,電費改善5.5%,行駛1萬公里時減少2000日元,搭載100kwh電池的車輛減少 5.5萬日元(Figure 18)。

Table 3. 電費改善與用戶利益

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Figure 18. 電池削減效果

3.2 Totem-pole PFC 的實機評估

Totem-pole PFC作為一種以高效率為目標的PFC轉換器的拓撲結構,近年來備受關注。另外,為了實現(xiàn)微電網(wǎng)系統(tǒng)的穩(wěn)定化和供需平衡,V2G的研究在世界范圍內得到推進,雙向運行也變得重要起來。

Figure 19是電路框圖。左區(qū)域(S1, S2)用于高頻開關,右區(qū)域(S3, S4)用于商用頻率(低頻)整流。S3和S4采用同步整流FET,可實現(xiàn)V2G的雙向工作。

Figure 20為各狀態(tài)的工作圖。圖騰柱低邊FET (S2) 在商用交流電的正半周期期間作為升壓轉換器執(zhí)行高頻開關(圖 (a):周期D)。此時,S1進行整流操作(圖(B):周期 1-D),但如果體二極管的恢復速度緩慢,則會出現(xiàn)較大的功率損耗。

SiC MOSFET由于體二極管恢復速度得非???,受這種功率損耗的影響較小,非常適合作為圖騰柱PFC的功率器件。接下來,在商用交流電的負半周,圖騰柱高邊場效應管(S1)作為升壓轉換器進行高頻開關(圖(C):周期 D),S2進行整流(圖(D) : 時期 1-). D). S3和S4在商用交流電每半個周期切換一次。

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Figure 19. Totem-pole PFC 框圖

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Figure 20. 各狀態(tài)工作圖 

為了驗證第四代SiC MOSFET對降低Totem-pole PFC的損耗所做的貢獻,使用實 Demo進行了實驗。Table4中為PFC的評價條件和使用的SiC器件的規(guī)格。當輸出電壓為 400V時,與750V耐壓的SiC MOSFET匹配。這里使用SCT4045DR。在Figure 21為 Demo的開關波形。在20ns-30ns的非常短的時間內turn on/off。Figure 22所示的效率的檢測結果,半載的1.5kW 實現(xiàn) 98%以上,全載的3kW實現(xiàn)97.6%的高效率。

Table 4. PFC 評估條件

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Figure 21. 開關波形

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Figure 22. 實測效率

4、總結

SiC 功率半導體是在 EV、數(shù)據(jù)中心、基站、智能電網(wǎng)等高電壓、大容量的應用中,在提高便利性的同時,提高功率轉換效率的關鍵功率設備。

第4代SiC MOSFET大幅改善了溝槽結構的性能,歸一化導通電阻也更小。活用這些得到的高速開關性能,低導通電阻對功率轉換效率的提高有很大的貢獻。

本手冊記載的使用1200V/36mΩ的SiC分立元器件的500V輸入7kW輸出的降壓型DC-DC轉換器的實機驗證,使用1200V/400A的SiC功率模塊的EV的800V輸入100kW的主牽引逆變器的模擬行駛試驗,以及使用750V/45mΩ的SiC分立元器件的Totem-pole PFC的實機評估,均顯示了它的有用性。可以期待它有助于提高世界上許多應用中的功率轉換效率。

最后,介紹一下本次發(fā)布的750V和1200V第4代SiC MOSFET產(chǎn)品線。

Table 5 第4代 SiC MOSFET 產(chǎn)品 Line up 表

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參考資料:ROHM SEMIConDUCTOR Application Note。

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