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【試驗技術(shù)】ESD試驗深度解讀

2024-03-04 18:08:59·  來源:汽車零部件實驗  
 

第一部分:基本術(shù)語和定義


ESD(Electrostatic Discharge)靜電放電定義:


標(biāo)準(zhǔn)定義:根據(jù)GB/T4365-2003 電工術(shù)語 電磁兼容對靜電放電的定義:具有不同靜電電位的物體靠近或者接觸引起的電荷轉(zhuǎn)移。


通用定義:兩個具有不同靜電電位的物體,由于直接接觸或靠近引起兩物體間電荷傳遞。電荷傳遞的能量達(dá)到一定程度后,擊穿其間介質(zhì)而進(jìn)行放電的現(xiàn)象就是靜電放電。


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接觸放電方法:


試驗發(fā)生器的電極保持與受試設(shè)備的并由發(fā)生器內(nèi)的放電開關(guān)激勵放電的一種試驗方法。


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空氣放電方法:


將試驗發(fā)生器的電極靠近受試設(shè)備直至接觸到受試設(shè)備并由發(fā)生器內(nèi)的放電開關(guān)激勵放電的一種試驗方法。


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直接放電(Direct Application):


直接對受試設(shè)備進(jìn)行放電。


間接放電(Indirect Application):


對受試設(shè)備附近的耦合板實施放電,以模擬人員對受試設(shè)備附近的物體的放電。


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保持時間(Holding Time):


放電之前,由于泄露而使試驗電壓下降 ≦10%的時間間隔。


上升時間(Rise Time):


脈沖瞬時值首次從脈沖幅值的10%上升到90%所經(jīng)歷的時間。


【GB/T4365-2003 定義161-02-05】IEC61000-4-2 2008 、GB/T17626-2.2018版本新增


儲能電容器(Energy Storage Capacitor):


靜電放電發(fā)生器中的電容器,用以代表人體充電至試驗電壓值時的電容量。


備注:可以是分立元件或者分布電容。


耦合板(Coupling Plane)簡稱CP


一塊金屬片或者金屬板,對其放電用來模擬對受試設(shè)備附近物體的靜電放電。


HCP為水平耦合板、VCP為垂直耦合板


第二部分:靜電放電發(fā)生器


靜電放電發(fā)生器的組成:


充電電阻Rc、儲能電容Cs、分布電容Cd、放電電阻Rd、電壓指示器、充電開關(guān)、放電開關(guān)、可更換的電極頭、放電回路電纜、電源裝置?!綢EC61000-4-2.2008、GB/T17626.2-2018標(biāo)準(zhǔn)】


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靜電放電發(fā)生器

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靜電放電發(fā)生器電路簡圖

靜電放電發(fā)生器的特性: 通用規(guī)范【IEC61000-4-2.2008、GB/T17626.2-2018標(biāo)準(zhǔn)】

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靜電放電發(fā)生器的特性: 接觸放電電流波形參數(shù)【IEC61000-4-2.2008、GB/T17626.2-2008標(biāo)準(zhǔn)】

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靜電放電發(fā)生器的特性:

4KV理想的接觸放電電流波形:【IEC61000-4-2.2008、GB/T17626.2-2018標(biāo)準(zhǔn)】

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ESD放電發(fā)生器電極規(guī)格要求:

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ESD放電發(fā)生器電極應(yīng)符合圖示的形狀和尺寸,可以被絕緣涂層覆蓋,只要產(chǎn)生電流波形符合規(guī)范要求。

放電回路電纜的要求:

? 放電回路電纜的長度為(2±0.05)m,其構(gòu)成應(yīng)使靜電發(fā)生器滿足電流波形規(guī)范要求。

? 放電回路電纜的長度是從ESD發(fā)生器本體至連接點的末端。它應(yīng)有足夠的絕緣以防止在靜電放電試驗期間放電電流不通過其端口而流向人員或?qū)w表面。

? 測試中使用的放電回路電纜應(yīng)和校準(zhǔn)中使用的電纜是相同的或等同的。

? 若2m長的放電回路電纜不夠長(例如較高的受試設(shè)備),可以采用不超過3m長的電纜,同時也要滿足發(fā)生器電流波形規(guī)范要求

第三部分:試驗布置要求

臺式設(shè)備試驗布置實例 試驗布置要求:

? 放在接地參考平面上高度(0.8±0.08)m的非導(dǎo)電的桌子。

? 放在桌面上的水平耦合板(HCP)尺寸為(1.6±0.02)m×(0.8±0.02)m,并用一個厚(0.5±0.05)mm的絕緣墊隔離。

? 如果受試設(shè)備過大而不能保持于水平耦合板各邊的最小距離為0.1m,則應(yīng)使用另一塊相同的水平耦合板,并與第一塊保持(0.3±0.02)m。使用兩張桌子,耦合板接地方式保持相同就可以。

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落地式設(shè)備試驗布置實例

試驗布置要求:

? 受試設(shè)備用0.05m~0.15m厚的絕緣支撐與接地參考平面隔開。

? 受試設(shè)備的電纜用厚度約為(0.5±0.05)mm厚的絕緣支撐與接地參考平面隔開。電纜的隔離應(yīng)超過受試設(shè)備隔離的邊緣。

? 落地設(shè)備試驗布置的實驗如圖。

? 任何與受試設(shè)備有關(guān)的安裝腳架應(yīng)保持原位。

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第四部分:靜電放電試驗的實施

? 受試設(shè)備試驗布置確認(rèn):受試設(shè)備是臺式設(shè)備、落地式設(shè)備、不接地設(shè)備、還是按照安裝后設(shè)備進(jìn)行試驗布置。

? 受試設(shè)備試驗等級確認(rèn):根據(jù)出貨地區(qū)、客戶要求選定試驗等級。

? 受試設(shè)備試驗方法確認(rèn):根據(jù)產(chǎn)品特性、應(yīng)用場景要求,結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于接觸放電與空氣放電實施的要求,選擇適宜的試驗方法。

? 靜電放電施加測試點與測試次數(shù)的確認(rèn):根據(jù)產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境、終端使用場景,結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)要求確定靜電放電施加測試點與測試次數(shù)。

試驗等級列表

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試驗等級的選擇:

對于接觸放電試驗,按照產(chǎn)品的試驗等級進(jìn)行,除非產(chǎn)品委員會有不同的規(guī)定。對于空氣放電試驗,應(yīng)按照試驗等級表規(guī)定的等級逐級實施,直至達(dá)到規(guī)定的試驗等級?!綢EC61000-4-2.2008、GB/T17626.2-2018新增要求】

試驗等級應(yīng)按照最切合實際的安裝和環(huán)境條件來選擇,試驗等級的指導(dǎo)原則如下表:

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對受試設(shè)備直接施加的放電

除非在通用標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)中有其他規(guī)定,靜電放電只施加在正常使用時人員可接觸到的受試設(shè)備上的點和面。下面是例外的情況(放電不施加在下述點)

a、在維修時才接觸得到的點和表面。這種情況下,特定的靜電放電簡化方法應(yīng)在相關(guān)文件中注明。

b、最終用戶保養(yǎng)時接觸到的點和表面,這些極少接觸到的點,如換電池時接觸到的電池觸點,錄音電話中的磁帶、如拆裝機器人灰盒時觸摸到的金屬觸點等

c、設(shè)備安裝固定后或按使用說明使用后不再能接觸到的點和面,例如底部和/設(shè)備的靠墻面或安裝端子后的地方、電視產(chǎn)品安裝壁掛的金屬螺絲孔等。

d、外殼為金屬的同軸連接器或多芯連接器可接觸到的點。該種情況下,僅對連接器的外殼施加接觸放電。

非導(dǎo)電(塑料)連接器內(nèi)可接觸到的點,應(yīng)只進(jìn)行空氣放電試驗。試驗適用靜電發(fā)生器的圓形電極頭。

e、由于功能原因?qū)o電放電敏感并有靜電放電警告標(biāo)簽的連接器或其他接觸部分可接觸到的點和面如測量、接收或其它通訊功能的射頻輸入端

靜電放電施加在連接器上的情況:

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對受試設(shè)備間接施加的放電

對于放置于或安裝在受試設(shè)備附近的物體的放電應(yīng)用靜電放電發(fā)生器對耦合板接觸放電的方式來模擬。

? 垂直耦合板接觸放電

? 水平耦合板接觸放電

? 放電開關(guān)閉合前,放電電極應(yīng)接觸耦合板的邊緣。

? 放電應(yīng)施加在耦合板上,通過調(diào)整耦合板位置,使

受試設(shè)備四面不同的位置都受到放電試驗。

第五部分:靜電放電試驗結(jié)果評價

靜電放電結(jié)果的評價:

試驗結(jié)果應(yīng)依據(jù)受試設(shè)備在試驗中的功能喪失或性能降低現(xiàn)象進(jìn)行分類,相關(guān)的性能水平由設(shè)備的制造商或需要方確定,或由產(chǎn)品的制造商和購買方雙方協(xié)商同意。推薦按以下要求分類:

A級判定(Criterion A): 指產(chǎn)品功能在測試前后及測試過程中完全可以正常操作,無任何功能減低或異?,F(xiàn)象出現(xiàn),完全不受ESD放電影響,則稱產(chǎn)品符合A級判定結(jié)果。

B級判定(Criterion B): 指產(chǎn)品在測試過程中,功能會受ESD放電影響,在放電瞬間會暫時性的功能降低,但可以自動恢復(fù),這樣的產(chǎn)品則稱符合B級判定結(jié)果。

C級判定(Criterion C):指產(chǎn)品功能在測試前可正常被操作,但測試過程中受ESD放電影響,出現(xiàn)功能降低或異常且功能無法自動恢復(fù),必須經(jīng)由操作人員做重置(Re-set)或重開機的動做才能恢復(fù)功能,這情形則僅符合

C級判定結(jié)果。

D級判定(Criterion D):指產(chǎn)品功能在測試前可正常被操作,測試過程中出現(xiàn)異常,由操作人員做重置(Re-set)或重開機也不能恢復(fù)功能,這種情況大概產(chǎn)品已損傷嚴(yán)重,僅符合D級判定結(jié)果。

試驗報告內(nèi)容要求

試驗報告應(yīng)包括能重現(xiàn)試驗的全部信息,特別是下列內(nèi)容:

? 受試設(shè)備和輔助設(shè)備的標(biāo)識。例如產(chǎn)品型號、序列號、品牌信息

? 試驗設(shè)備的標(biāo)識,例如商標(biāo)、產(chǎn)品型號、序列號

? 試驗環(huán)境信息,例如環(huán)境溫度、濕度、大氣壓

? 進(jìn)行試驗所需的任何特定條件

? 制造商、委托方或購買方規(guī)定的性能水平

? 在通用、產(chǎn)品或產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的性能要求。

? 試驗時在騷擾施加期間及以后觀察到的對受試設(shè)備的任何影響,及其持續(xù)時間

? 試驗通過/失敗的判斷原因

? 試驗配置和受試設(shè)備布置圖片

? 受試產(chǎn)品的配置信息,例如軟件版本、板卡版本、關(guān)鍵器件信息。

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