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【干貨分享】硬件在環(huán)仿真(HiL)測(cè)試

2024-09-13 10:53:22·  來源:新能源汽車電控開發(fā)與測(cè)試  作者:王小奎  
 

一、HiL是什么?

硬件在環(huán)仿真(Hardware-in-the-Loop,簡(jiǎn)稱HIL)是的控制器連接的被控對(duì)象,以一種高效低成本的方式對(duì)控制器進(jìn)行全面測(cè)試。它是一種用于復(fù)雜設(shè)備控制器的開發(fā)與測(cè)試技術(shù),通過接入真實(shí)的控制器,采用或者部分采用實(shí)時(shí)仿真模型來模擬被控對(duì)象和系統(tǒng)運(yùn)行環(huán)境,實(shí)現(xiàn)整個(gè)系統(tǒng)的仿真測(cè)試。

實(shí)時(shí)仿真硬件(也稱HIL測(cè)試機(jī)柜)就是要盡可能逼真地模擬真實(shí)被控對(duì)象,以有效地“欺騙”控制器,讓控制器以為它正在控制一個(gè)真實(shí)的被控對(duì)象。

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為什么要做HIL測(cè)試?開發(fā)出車載控制器后,直接把該控制器放到車上進(jìn)行路試不可以嗎?主機(jī)廠對(duì)控制器做HIL測(cè)試的原因如下:

1.安全。試想:在路試過程中,車速180km/h,轉(zhuǎn)向過程中ESP車身電子穩(wěn)定系統(tǒng)失效,將會(huì)發(fā)生什么?控制器如果沒有經(jīng)過全面的測(cè)試,直接去控制真實(shí)被控對(duì)象,可能會(huì)發(fā)生事故。HIL臺(tái)架能輔助工程師對(duì)測(cè)試結(jié)果分析驗(yàn)證,故障再現(xiàn),提高測(cè)試驗(yàn)證及分析手段。

2.低成本。如果不采取HIL自動(dòng)化測(cè)試,人工路測(cè)情況下,需要很大的路測(cè)工程師及車輛,在一定程度上大大增加了研發(fā)開支及風(fēng)險(xiǎn),HIL臺(tái)架在確保測(cè)試全面可靠的前提下,能夠有效縮短測(cè)試周期,降低測(cè)試人工及物料成本。

3.測(cè)試覆蓋度。HiL測(cè)試覆蓋度越高,后期路試測(cè)試項(xiàng)目就越低,HiL 自動(dòng)化測(cè)試服務(wù)包括一套完整的 HiL 自動(dòng)化測(cè)試用例、自動(dòng)化測(cè)試程序、自動(dòng)化測(cè)試報(bào)告、測(cè)試問題記錄,進(jìn)而保證 HiL 測(cè)試的高效進(jìn)行,測(cè)試覆蓋度越高,控制器在整車測(cè)試、路測(cè)過程中風(fēng)險(xiǎn)及成本越低。

HIL測(cè)試目的是對(duì)控制系統(tǒng)進(jìn)行全面的深入的功能測(cè)試、故障測(cè)試、總線診斷測(cè)試,自動(dòng)化測(cè)試,并輔助工程師對(duì)測(cè)試結(jié)果分析驗(yàn)證,故障再現(xiàn), 提高測(cè)試驗(yàn)證及分析的手段。

二、HiL測(cè)試分類:

1、按照功率分分為:信號(hào)級(jí)HIL及功率機(jī)HIL測(cè)試。VCU電控即時(shí)信號(hào)機(jī)HIL測(cè)試,MCU驅(qū)動(dòng)電機(jī)控制測(cè)試即是 功率級(jí)測(cè)試。

2、作用對(duì)象來分:?jiǎn)为?dú)控制器和聯(lián)調(diào)控制器測(cè)試。比如三電控制器單獨(dú)的 HilL 測(cè)試和三電控制器聯(lián)調(diào)。

三電控制器HiL測(cè)試介紹:

1、VCU-HiL仿真測(cè)試系統(tǒng)

VCU控制技術(shù)水平直接影響著整車的動(dòng)力性、安全性及經(jīng)濟(jì)性。作為國家重點(diǎn)發(fā)展的技術(shù)方向,近年來隨著我國大力發(fā)展新能源汽車及新能源汽車市場(chǎng)不斷擴(kuò)大,市場(chǎng)對(duì)于新能源汽車整車控制系統(tǒng)的開發(fā)、測(cè)試與產(chǎn)業(yè)化的要求更為緊迫和嚴(yán)格。

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VCU-HiL測(cè)試主要功能

控制功能全面測(cè)試/總線網(wǎng)絡(luò)測(cè)試/極限工況測(cè)試/耐久測(cè)試/故障診斷全面測(cè)試/回歸測(cè)試/數(shù)據(jù)初始標(biāo)定/重復(fù)性測(cè)試

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