"質(zhì)量與可靠性標準幫助我們贏得了新的汽車業(yè)務，而NI VeriStand在此過程中扮演著至關重要的角色。"
- Jason G. Bauman, Lear Corporation 
挑戰(zhàn):
在我們的嵌入式電子產(chǎn)品復雜程度日益增加的情況下，保持質(zhì)量和可靠性標準，并實現(xiàn)預算和既定目標。

解決方案:
采用基于NI VeriStand的實時測試軟件和PXI硬件的新的硬件在環(huán)(HIL)測試平臺，具有很好的靈活性，高效性和直觀性，完全能滿足我們當前的需要，而且對于將來繼續(xù)擴展的產(chǎn)品，也能很好的支持。

作者:
Jason G. Bauman - Lear Corporation 
Darryn LaZar - Wineman Technology Inc.

李爾公司的電子部門為汽車應用設計和制造嵌入式控制電子器件，包括內(nèi)部外部照明控制，電源管理系統(tǒng)，鎖定控制，以及輪胎氣壓監(jiān)控系統(tǒng)。嵌入式軟件是這些產(chǎn)品的主要組成部分，這些軟件的功能和復雜性成指數(shù)增長。我們廣泛地使用硬件在環(huán) (HIL)測試，因為它允許我們有效地提高測試能力，增加測試覆蓋范圍，以應對這些增加的復雜性。然而，我們目前的硬件在環(huán)(HIL)測試平臺并不能提供穩(wěn)定性，易用性，以及靈活性兼顧的方案以實現(xiàn)我們期待的質(zhì)量標準。

NI VeriStand的實時激勵框架（Stimulus Profiles）

在研究了可選的方案后，很明顯，NI HIL測試平臺所提供的先進方法可以滿足我們當前和將來的挑戰(zhàn)。我們之所以使用NI VeriStand實時測試軟件來完成HIL測試應用，是因為它提供了多種強有力的、基于配置的特性，包括實時I/O接口，可觸發(fā)的數(shù)據(jù)記錄，一個運行時可編輯用戶界面，以及對系統(tǒng)模型的易集成性。不過，使用NI VeriStand最大的好處是它的實時測試自動化能力。

NI VeriStand提供了幾種方法來創(chuàng)建我們的測試策略所要求的復雜的激勵框架。VeriStand提供的這些工具非常容易上手，允許我們的測試工程師迅速地執(zhí)行測試程序，并縮短學習掌握的時間。實時激勵框架這個工具按照測試工程師的思路來運行，在使用時并不要求具有額外的程序設計語言知識。正因如此我們的工程師可以專注于他們的工作——識別潛在的模塊失效——這些失效會導致更多的問題，并加以識別和解決。此外，環(huán)境的開放性允許我們使用其它工具包創(chuàng)建的測試腳本來快速地增加它的功能，從而給了我們很大的自由，可以使用來自其它多個渠道的測試腳本。

當我們使用測試自動化執(zhí)行大部分測試應用時，NI VeriStand也允許我們很方便地通過測試實例手動地逐步進行，這對于調(diào)試所發(fā)現(xiàn)的問題來說，無疑是極為有用的。我們可以從自動化的測試快速地轉(zhuǎn)換為交互式的根本原因分析。通過切換到與我們的嵌入式軟件調(diào)試工具串聯(lián)，我們可以通過測試腳本和嵌入式軟件代碼同時執(zhí)行逐步調(diào)試，來更有效地識別和解決問題。
使用NI RIO創(chuàng)建多用途測試系統(tǒng)

此外，只需改變測試軟件和接線，我們就可以創(chuàng)建能用于測試多種產(chǎn)品的HIL測試系統(tǒng)，，因為我們?yōu)槟M和數(shù)字I/O通道使用基于現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)的NI可配置I/O (RIO)接口。這種能力使擴大測試系統(tǒng)的應用范圍和增加測試量成為可能。

高性能車載總線接口

同樣的，我們使用NI-XNET車載總線卡，為車載總線提供高性能的接口，具有使用和更改車載總線數(shù)據(jù)庫文件來快速配置和更新車載網(wǎng)絡的能力。NI-XNET與NI VeriStand的開放性相結(jié)合，也允許我們更容易地執(zhí)行自己的協(xié)議層。

HIL測試系統(tǒng)定制

為了使用不同的NI-RIO FPGA特性，自定義協(xié)議層，以及其它NI VeriStand改進，我們與Wineman Technologies公司開展合作。Wineman Technologies是美國國家儀器有限公司（NI）的區(qū)域集成商，它在HIL測試系統(tǒng)的開發(fā)以及NI軟硬件工具方面具有豐富的經(jīng)驗。通過及時的溝通和專業(yè)的支持，他們幫助我們快速的改進了新的HIL測試系統(tǒng)，以確保我們成功更新產(chǎn)品開發(fā)中的關鍵部件。

未來展望

我們決定使用NI HIL測試平臺的主要因素是其開放的硬件和軟件環(huán)境。當我們的HIL測試系統(tǒng)需求拓展到無線和高壓應用時，這種開放式的結(jié)構(gòu)已經(jīng)在提供我們預期的優(yōu)勢。我們當前正在增加高壓負載和電源支持來幫助對我們的混合充電器生產(chǎn)線執(zhí)行更廣泛的測試。我們也在為HIL測試系統(tǒng)增加RF發(fā)射和接收能力，使用一個單獨的系統(tǒng)來模擬我們的產(chǎn)品將要與之接口的、完備的各種各樣的裝置以及嵌入更多詳細的RF信號和協(xié)議缺陷。開放的NI HIL平臺軟硬件工具使快速有效地擴展這些系統(tǒng)成為可能，利用第三方硬件部件以及在NI開發(fā)社區(qū)中可得到的大量可用的軟件附加工具。

對我們業(yè)務的影響

我們已經(jīng)連續(xù)運行NI VeriStand和基于PXI的HIL系統(tǒng)超過一年而沒有出現(xiàn)任何檢測故障。如此高的穩(wěn)定性以及使用NI VeriStand和NI硬件產(chǎn)品所實現(xiàn)的高效收益使得我們的團隊在開發(fā)的初期就能檢測出更多的問題并快速解決，從而減少了我們的保修問題，降低了返修率。