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功率級(jí)硬件在環(huán)(pHIL)測(cè)試是對(duì)傳統(tǒng)信號(hào)級(jí)HIL測(cè)試的擴(kuò)展，包括在閉環(huán)仿真器中測(cè)試EV牽引逆變器中的電力電子電路。通過(guò)模擬EV動(dòng)力總成中的電源組件，牽引逆變器驗(yàn)證工程師可以將其測(cè)試能力進(jìn)行擴(kuò)展，以在受控環(huán)境中安全地覆蓋更廣泛的測(cè)試場(chǎng)景和故障類型。
相對(duì)于測(cè)功機(jī)測(cè)試，pHIL測(cè)試是一種成本較低的替代方案，可減少對(duì)EV電機(jī)的需求。此外，pHIL測(cè)試還可以復(fù)制難以通過(guò)車載測(cè)試輕松實(shí)現(xiàn)的場(chǎng)景（例如，單個(gè)車輪在結(jié)冰的道路上打滑）?？焖俚孪到y(tǒng)，以管理迅速發(fā)展的DUT并滿足上市時(shí)間要求。
客戶需求01. 在所有四個(gè)象限中，以全功率仿真PMSM或感應(yīng)電機(jī)的所有特性。
02. 以100 kHz或更快的循環(huán)速率運(yùn)行電機(jī)和電氣模型，以便達(dá)到足夠高的模型精度，從而通過(guò)仿真測(cè)試逆變器。
03. 使用現(xiàn)有的模型、工具和工作流程快速部署。測(cè)試系統(tǒng)需要快速投入運(yùn)行，以滿足緊迫的交付時(shí)間表。
04. 對(duì)硬件進(jìn)行故障插入，測(cè)試開(kāi)路和短路；對(duì)軟件進(jìn)行故障插入，測(cè)試網(wǎng)絡(luò)消息。
D&V和NI解決方案
01. NI PXI高速串行模塊可使用光纖線纜將FPGA直接連接到D＆V仿真器，確保在必要的循環(huán)速率下實(shí)現(xiàn)全功率并進(jìn)行操作。
02. 隨時(shí)將來(lái)自各種電氣建模環(huán)境（如SimPowerSystems、PSIM和Multisim）的模型直接部署到NI FPGA PXI模塊，以重復(fù)使用現(xiàn)有模型并加速開(kāi)發(fā)。
03. 開(kāi)路、短路和接地硬件故障插入由NI SLSC或D＆V仿真器實(shí)現(xiàn)，而軟件故障則直接在FPGA中實(shí)現(xiàn)。
D＆V的優(yōu)勢(shì)
- 循環(huán)電機(jī)仿真器的占地面積更小，可降低運(yùn)營(yíng)成本- 通過(guò)可擴(kuò)展的I/O和電力電子設(shè)備，使測(cè)試系統(tǒng)適應(yīng)未來(lái)發(fā)展- 利用D＆V集成專業(yè)知識(shí)，縮短首次測(cè)試時(shí)間
D&V電子設(shè)備pHIL逆變器測(cè)試結(jié)構(gòu)框圖
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