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電子元件可靠性全面解讀

2024-10-25 16:46:23·  來源:汽車零部件實(shí)驗(yàn)  
 
從凝固過程的實(shí)時觀測可知,Sn-Ag-Cu共晶液滴的凝固從周邊開始瞬間即到達(dá)中央,最終凝固的是頂上白色的部分

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由于液滴的凝固從周邊開始如果冷卻速率過快,在樹枝晶生長過程中會產(chǎn)生很大的應(yīng)力,于是產(chǎn)生熱裂紋,在最終凝固區(qū)發(fā)生縮松和龜裂。

但是冷卻速率也不易過低因?yàn)楦叩睦鋮s速率可以使微觀組織細(xì)化,提高焊點(diǎn)的強(qiáng)度。

●由于微連接的特殊性,使焊縫金屬在結(jié)晶過程中,由于來不及擴(kuò)散而存在著嚴(yán)重的化學(xué)成分的不均勻性。

●在焊縫內(nèi)部,存在著嚴(yán)重的顯微偏析和區(qū)域偏析,尤其是在母材與焊料的界面,由于液/固相之間的相互溶解和擴(kuò)散,存在著嚴(yán)重的成分偏析。

●焊點(diǎn)剝離,無鉛合金的熱膨脹系數(shù)和基板之間的差別大,導(dǎo)致焊點(diǎn)固化時在剝離部分由太大的應(yīng)力而使它們分開。

●一方面較大的冷卻速度能夠抑制偏析,從而抑制剝離;●另一方面冷卻速度越大,焊料的變形速率越大,越易于促進(jìn)焊點(diǎn)開裂。另外,必須在焊料液相線溫度以上采取急冷措施才能有效抑制偏析。

●冷卻速率對機(jī)械性能、潤濕性能、抗蠕變性能和焊點(diǎn)循環(huán)壽命等有影響。

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在再流焊接熔化過程中快速長大,而且銀含量越高,板狀的Ag3Sn相越多。

若減小焊后冷卻速率,板狀的Ag3Sn可以穿過整個焊接接頭的橫截面,嚴(yán)重影響了接頭在承受熱應(yīng)力是的力學(xué)性能。

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10、金對焊點(diǎn)可靠性的影響

●由于金優(yōu)良的穩(wěn)定性和可靠性,成為最常用的表面鍍層金屬。

●作為焊料里的雜質(zhì),金對焊料的延展性是非常有害的。

●因?yàn)楹噶现袝纬纱嘈缘腟n-Ag金屬間化合物(AuSn)

●雖然低濃度的AuSn能提高焊料的機(jī)械性能,當(dāng)超過4%時,拉伸強(qiáng)度和失效時的延伸量都會迅速下降。

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11、環(huán)境和化學(xué)因素

●環(huán)境

電子封裝工作時產(chǎn)生的直流電位、溫度水分吸附于材料表面,溶解及其、空氣中的離子物質(zhì)封裝材料的核輻射如氧化鋁陶瓷的a粒子輻射

塑料封裝為非氣密性封裝

●化學(xué)失效機(jī)理:

電化學(xué)腐蝕

應(yīng)力腐蝕斷裂

應(yīng)力腐蝕疲勞

●結(jié)果:

封裝內(nèi)部引線鍵合界面發(fā)生腐蝕失效

腐蝕導(dǎo)致互連線截面積減小,阻抗增大

12、環(huán)境和化學(xué)因素

●擴(kuò)散引起的失效-電位移

●在電場作用下金屬原子沿電場方向產(chǎn)生宏觀的移動。

●布線上金屬原子消耗的地方產(chǎn)生開路,積累的地方產(chǎn)生晶須。

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13、塑料電子器件的吸濕

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●封裝分層并長期暴露于潮濕環(huán)境

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●器件受熱,封裝內(nèi)水汽膨脹

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●機(jī)械應(yīng)力引起芯片形變和壓焊點(diǎn)脫落

14、環(huán)境和化學(xué)因素

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