廣告
首頁 > 測試行業(yè)動態(tài) > 正文
新思科技又上新了——TestMax，測試和診斷的黑科技
2019-04-10 21:59:43· 來源：新思科技
全面RTL DFT流程，加上新思科技Fusion Design Platform，確保最快上市時間與最佳設計功耗、性能與面積 先進的汽車功能安全支持包括軟錯誤分析和X-tolerant邏輯BI
全面RTL DFT流程，加上新思科技Fusion Design Platform™，確保最快上市時間與最佳設計功耗、性能與面積
先進的汽車功能安全支持包括軟錯誤分析和X-tolerant邏輯BIST，以符合ISO 26262標準要求
通過功能用途高速接口進行的測試帶來了前所未有的測試帶寬與便攜性
新思科技(Synopsys, Inc.，納斯達克股票市場代碼：SNPS)近日宣布，TestMAX™系列產(chǎn)品上市，其創(chuàng)新的測試與診斷功能適用于半導體器件的所有數(shù)字、存儲和模擬部分。
新思科技TestMAX系列包括用于汽車測試和功能安全的獨特功能及技術，利用設計中常見的高速接口，實現(xiàn)全新級別的測試帶寬和效率。功能強大、可高度配置的測試自動化流程提供新思科技TestMAX所有功能的無縫集成。全面RTL集成支持復雜DFT邏輯的早期驗證，并且與新思科技Fusion Design Platform™的直接鏈接保證了對物理、時序和功耗的關注。這些新功能，加上早期可測試性分析與規(guī)劃、層次化ATPG壓縮、物理感知診斷、BIST、存儲自測試與修復以及模擬故障仿真等綜合支持，確保新思科技TestMAX產(chǎn)品系列在解決重要測試問題的同時實現(xiàn)今后高要求應用的有效測試。
人工智能和汽車等快速發(fā)展的新應用增加了設計規(guī)模與復雜性。這些不斷發(fā)展的細分市場需要前所未有的高質(zhì)量和長期可靠性。獨特的TestMAX軟錯誤分析計算ISO 26262標準數(shù)據(jù)，從而識別與解決設計周期早期發(fā)現(xiàn)的潛在問題，并引導有效的設計變動。
滿足強制功能安全級別的需求讓先進半導體測試的重要性與集成必要性發(fā)生了重大改變。通常一旦車輛啟動并運行，器件就必須實施自測試機制。邏輯Logic BIST通常用于檢查器件邏輯中的安全故障，但無法容忍未知的電路狀態(tài)，如那些源自設計定案后時序異常引發(fā)的情況。
新思科技TestMAX推出了業(yè)界首個X-tolerant邏輯BIST解決方案，該解決方案可以在未知狀況下運作，并且與競爭對手的邏輯BIST解決方案相比，創(chuàng)新的reseeding技術在更短的時間里顯著提升了故障覆蓋率。新思科技 TestMAX提供了片上基礎架構(gòu)，用于車輛啟動或運行期間定期運行X-tolerant邏輯BIST。
“我們用戶的設計越來越多地用于汽車應用。新思科技 TestMAX X-tolerant邏輯BIST解決方案能夠在最不影響設計的情況下，幫助用戶實現(xiàn)他們宏偉的測試時間和覆蓋率自測試目標。”
JY Choi 三星電子代工廠設計技術團隊 副總裁
隨著設計規(guī)模不斷增長，管理制造測試時間已經(jīng)愈發(fā)困難。由于測試探針和相關時鐘頻率的有限增長，測試應用帶寬通常不升級。新思科技TestMAX利用高速功能接口，例如當今大部分器件上存在的USB和PCI Express，帶來了突破性的解決方案。新思科技TestMAX通過這些功能接口中的一個或多個應用到所有的制造測試上，帶來幾乎不受限制的測試帶寬，并且減少(如果無法消除0專有測試探針的開支。由于使用了功能接口，所有的測試變得完全便攜式，可以用于產(chǎn)品生命周期中的各個階段。
“由于多項技術與市場趨勢帶來的綜合影響，我們的用戶正面臨新的測試挑戰(zhàn)。通過新思科技TestMAX系列產(chǎn)品實現(xiàn)的創(chuàng)新已經(jīng)為許多設計公司帶來關鍵優(yōu)勢。我們致力于不斷完善解決方案，以滿足他們的未來需求。”
Steve Pateras 新思科技芯片設計事業(yè)部 高級營銷總監(jiān)
先進的汽車功能安全支持包括軟錯誤分析和X-tolerant邏輯BIST，以符合ISO 26262標準要求
通過功能用途高速接口進行的測試帶來了前所未有的測試帶寬與便攜性
新思科技(Synopsys, Inc.，納斯達克股票市場代碼：SNPS)近日宣布，TestMAX™系列產(chǎn)品上市，其創(chuàng)新的測試與診斷功能適用于半導體器件的所有數(shù)字、存儲和模擬部分。
新思科技TestMAX系列包括用于汽車測試和功能安全的獨特功能及技術，利用設計中常見的高速接口，實現(xiàn)全新級別的測試帶寬和效率。功能強大、可高度配置的測試自動化流程提供新思科技TestMAX所有功能的無縫集成。全面RTL集成支持復雜DFT邏輯的早期驗證，并且與新思科技Fusion Design Platform™的直接鏈接保證了對物理、時序和功耗的關注。這些新功能，加上早期可測試性分析與規(guī)劃、層次化ATPG壓縮、物理感知診斷、BIST、存儲自測試與修復以及模擬故障仿真等綜合支持，確保新思科技TestMAX產(chǎn)品系列在解決重要測試問題的同時實現(xiàn)今后高要求應用的有效測試。
人工智能和汽車等快速發(fā)展的新應用增加了設計規(guī)模與復雜性。這些不斷發(fā)展的細分市場需要前所未有的高質(zhì)量和長期可靠性。獨特的TestMAX軟錯誤分析計算ISO 26262標準數(shù)據(jù)，從而識別與解決設計周期早期發(fā)現(xiàn)的潛在問題，并引導有效的設計變動。
滿足強制功能安全級別的需求讓先進半導體測試的重要性與集成必要性發(fā)生了重大改變。通常一旦車輛啟動并運行，器件就必須實施自測試機制。邏輯Logic BIST通常用于檢查器件邏輯中的安全故障，但無法容忍未知的電路狀態(tài)，如那些源自設計定案后時序異常引發(fā)的情況。
新思科技TestMAX推出了業(yè)界首個X-tolerant邏輯BIST解決方案，該解決方案可以在未知狀況下運作，并且與競爭對手的邏輯BIST解決方案相比，創(chuàng)新的reseeding技術在更短的時間里顯著提升了故障覆蓋率。新思科技 TestMAX提供了片上基礎架構(gòu)，用于車輛啟動或運行期間定期運行X-tolerant邏輯BIST。
“我們用戶的設計越來越多地用于汽車應用。新思科技 TestMAX X-tolerant邏輯BIST解決方案能夠在最不影響設計的情況下，幫助用戶實現(xiàn)他們宏偉的測試時間和覆蓋率自測試目標。”
JY Choi 三星電子代工廠設計技術團隊 副總裁
隨著設計規(guī)模不斷增長，管理制造測試時間已經(jīng)愈發(fā)困難。由于測試探針和相關時鐘頻率的有限增長，測試應用帶寬通常不升級。新思科技TestMAX利用高速功能接口，例如當今大部分器件上存在的USB和PCI Express，帶來了突破性的解決方案。新思科技TestMAX通過這些功能接口中的一個或多個應用到所有的制造測試上，帶來幾乎不受限制的測試帶寬，并且減少(如果無法消除0專有測試探針的開支。由于使用了功能接口，所有的測試變得完全便攜式，可以用于產(chǎn)品生命周期中的各個階段。
“由于多項技術與市場趨勢帶來的綜合影響，我們的用戶正面臨新的測試挑戰(zhàn)。通過新思科技TestMAX系列產(chǎn)品實現(xiàn)的創(chuàng)新已經(jīng)為許多設計公司帶來關鍵優(yōu)勢。我們致力于不斷完善解決方案，以滿足他們的未來需求。”
Steve Pateras 新思科技芯片設計事業(yè)部 高級營銷總監(jiān)
廣告 編輯推薦
最新資訊
-
“汽車爬坡試驗方法”將有國家標準
2026-03-03 12:44
-
十年耐久監(jiān)管時代：電池系統(tǒng)開發(fā)策略將如何
2026-03-03 12:44
-
聯(lián)合國法規(guī)R59對機動車備用消聲系統(tǒng)的工程
2026-03-03 12:08
-
聯(lián)合國法規(guī)R58對后下部防護裝置的工程化約
2026-03-03 12:07
-
聯(lián)合國法規(guī)R57對摩托車前照燈配光性能的工
2026-03-03 12:07
