Material Properties
什么是材料性能或試樣測(cè)試？

材料測(cè)試一般是指測(cè)定材料在機(jī)械、熱學(xué)、電學(xué)、腐蝕、輻射和生物劣化等方面的性能或特性。

機(jī)械試驗(yàn)方法可分為破壞性試驗(yàn)和非破壞性材料試驗(yàn)：
破壞性試驗(yàn)：對(duì)隨機(jī)試樣施加導(dǎo)致它們破壞的負(fù)荷，用于確定最大載荷以及在該載荷影響下材料的性能。
無(wú)損檢測(cè)：對(duì)材料的工件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。

試驗(yàn)的進(jìn)一步分類基于載荷類型：
靜態(tài)試驗(yàn)：載荷（拉伸、壓縮或彎曲載荷）緩慢或持續(xù)地作用在材料樣品上。
動(dòng)態(tài)測(cè)試：試樣承受突然變化的載荷或周期性作用載荷。
循環(huán)試驗(yàn)：試樣經(jīng)受反復(fù)或交變循環(huán)載荷，例如正弦形式。
沖擊試驗(yàn)：試樣受到夏比試驗(yàn)沖擊。

在拉伸試驗(yàn)中，試樣被拉至斷裂點(diǎn)。根據(jù)材料特性，你可以真正了解材料的性能，它能吸收多少能量，從而預(yù)測(cè)產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中的性能。有些測(cè)試可能還需要在環(huán)境室中進(jìn)行。


破壞性材料測(cè)試

通過高精度測(cè)量設(shè)備獲取材料特性

在許多行業(yè)中，材料的選擇起著至關(guān)重要的作用，因?yàn)橹圃焐桃恢痹趯で蠼档蛙囕v、機(jī)器、結(jié)構(gòu)和設(shè)備的重量和成本。作為結(jié)構(gòu)完整性一部分，新材料部件（如金屬、合金、混凝土、聚合物、陶瓷、模制塑料或復(fù)合材料）的機(jī)械特性對(duì)于實(shí)現(xiàn)最佳的安全性、耐久性、柔韌性、強(qiáng)度重量比、性能、可靠性和成本效益至關(guān)重要?？茖W(xué)家和工程師在產(chǎn)品設(shè)計(jì)，模擬和真實(shí)測(cè)試中，需要了解材料的特性，如應(yīng)力、應(yīng)變、拉伸模量和泊松比。準(zhǔn)確的材料性能數(shù)據(jù)可防止現(xiàn)場(chǎng)故障，并在問題出現(xiàn)前提前預(yù)測(cè)。

因此，材料性能測(cè)試是了解材料在各種應(yīng)力下性能的關(guān)鍵步驟。它通常由符合ISO和ASTM標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)機(jī)進(jìn)行。然而，我們強(qiáng)烈建議增加額外的傳感器，因?yàn)檫@有助于更好、更精確地了解材料結(jié)構(gòu)特征。

可靠結(jié)果：采用HBK測(cè)量設(shè)備

在材料測(cè)試中，高精度的傳感器數(shù)據(jù)有助于更好、更精確地了解材料特性，讓您更深入地理解測(cè)試數(shù)據(jù)。QuantumX可采集所有傳感器數(shù)據(jù)源，提供精確可靠的結(jié)果。

多家公司將HBK測(cè)量鏈集成到他們材料測(cè)試系統(tǒng)中，如MTS, Instron和Zwick。
通過EtherCAT, PROFINET或電壓輸入實(shí)時(shí)集成
通過catman軟件集成，并行融合數(shù)據(jù)文件
通過簡(jiǎn)單的API命令直接進(jìn)入測(cè)試機(jī)軟件

您可在材料試驗(yàn)機(jī)運(yùn)行時(shí)獲取傳感器數(shù)據(jù)，在試樣上的不同位置和任何材料上進(jìn)行測(cè)量。獲取載荷、應(yīng)變、溫度和任何你想測(cè)量的材料性能精確數(shù)據(jù)。

最大200 kS/s的測(cè)試方案

catman
輕松采集、可視化和分析測(cè)量數(shù)據(jù)，并以所有常用文件格式存儲(chǔ) - 在線或后處理。catman還可集成FOM Aramis。

QuantumX
通用數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，以低噪聲、高精確、通用和易用性而廣受歡迎。尤其當(dāng)采集較小彈性形變時(shí)，具有極高的分辨率。

連接的典型傳感器：
電阻或光纖應(yīng)變片
環(huán)境氣候室溫度測(cè)量和溫度補(bǔ)償用Pt100
引伸計(jì)
基于相機(jī)的三角剖分立體變形，需要獲取3D位移表面應(yīng)變和圖像

使用測(cè)量模塊:
MX840B通用放大器支持多達(dá)17種不同的傳感器類型
MX410B通用高速放大器，每通道采樣率高達(dá)200 kS/s

200 kS/s到2 MS/s的測(cè)試方案

Perception
采用Genesis高速測(cè)量系統(tǒng)可輕松獲取極高采樣數(shù)據(jù)，并可使用用戶自定義的公式進(jìn)行分析，進(jìn)行動(dòng)態(tài)楊氏模量或應(yīng)變花計(jì)算等，并可自動(dòng)創(chuàng)建每個(gè)樣本報(bào)告。交叉樣本報(bào)告可跨越測(cè)試系列和數(shù)百個(gè)應(yīng)變通道。


Genesis HighSpeed
模塊化，通用數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，高達(dá)2 ms/s的高采樣率，通常用于剛性或復(fù)合材料測(cè)試。

極高分辨率的Sigma-Delta ADC或SAR ADC，可用于在破壞性材料試驗(yàn)（如夏比擺錘或霍普金森桿試驗(yàn)）中測(cè)量快速上升的信號(hào)。

使用的典型傳感器：
全橋, ? 橋和 ? 橋應(yīng)變片
IEPE加速度計(jì)
電荷傳感器
直流供電傳感器，如用于快速壓力波測(cè)量的Kulite壓力傳感器
熱偶或Ptxx溫度傳感器
數(shù)千幀/秒的超高速攝像機(jī)

Genesis Highspeed系統(tǒng)典型輸入卡：
GN840B/GN1640B通用輸入卡，采樣率500 kS/s@24 bit，支持常用傳感器
GN815/GN816高速輸入卡，采樣率2 MS/s和SAR ADC用于測(cè)量超快速上升信號(hào)的加速度計(jì)

您還可以通過如下方式聯(lián)系我們，了解更多產(chǎn)品與應(yīng)用詳情：

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