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羅德與施瓦茨增強(qiáng)汽車?yán)走_(dá)罩測(cè)試儀功能，為材料反射測(cè)量帶來(lái)了新的精度水平
2024-12-02 12:55:57· 來(lái)源：羅德與施瓦茨中國(guó)
羅德與施瓦茨（簡(jiǎn)稱RS公司）增強(qiáng)了其優(yōu)質(zhì)汽車?yán)走_(dá)罩測(cè)試儀QAR，這是一種用于雷達(dá)集成測(cè)試的定制解決方案，只需數(shù)秒即可分析和評(píng)估雷達(dá)罩（車標(biāo)）和保險(xiǎn)杠相對(duì)于
羅德與施瓦茨（簡(jiǎn)稱R&S公司）增強(qiáng)了其優(yōu)質(zhì)汽車?yán)走_(dá)罩測(cè)試儀QAR，這是一種用于雷達(dá)集成測(cè)試的定制解決方案，只需數(shù)秒即可分析和評(píng)估雷達(dá)罩（車標(biāo)）和保險(xiǎn)杠相對(duì)于雷達(dá)的兼容性。
OEM整車廠和一級(jí)供應(yīng)商通過(guò)新的 QAR-K50 單一天線集群測(cè)量軟件，以非破壞性的、二維的方式進(jìn)行測(cè)量，并能得到非常接近于以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 （VNA） 和準(zhǔn)光學(xué) （QO） 裝置所獲得的測(cè)量結(jié)果。此外，用戶還將從 QAR的直觀操作理念中獲益。
QAR 是一套適用于雷達(dá)罩和保險(xiǎn)杠的測(cè)試與驗(yàn)證的毫米波成像系統(tǒng)。得益于其出眾的性能、速度、質(zhì)量以及直觀的操作，該系統(tǒng)成為一套完美的工具，應(yīng)用范圍覆蓋從76 GHz到81 GHz的雷達(dá)罩材料和集成測(cè)試，包括從研發(fā)、生產(chǎn)到驗(yàn)證的各個(gè)環(huán)節(jié)。
高空間分辨率是以在入射角方面具有更大的擴(kuò)展為代價(jià)的。典型的雷達(dá)傳感器具有一定的視場(chǎng)（FOV），例如全范圍雷達(dá)（FRR）是±10度，而短距離雷達(dá)（SRR）是±60度。根據(jù)材料表征技術(shù)，雷達(dá)罩的反射參數(shù)主要以垂直入射角來(lái)定義，因?yàn)檫@些參數(shù)可以使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）進(jìn)行測(cè)量。QAR-K50軟件選件即基于這個(gè)主題。
將QAR提供的結(jié)果與使用標(biāo)準(zhǔn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 （VNA） 和準(zhǔn)光學(xué) （QO） 裝置測(cè)量的結(jié)果進(jìn)行比較，利用QAR所用的較大孔徑，能夠觀察到并解釋測(cè)試對(duì)象的某些誤差。
這就是QAR-K50軟件選件發(fā)揮效力之處。它會(huì)自動(dòng)檢測(cè)材料樣本中的最高反射和測(cè)試區(qū)域的平均值。反射區(qū)域的平均值在 7 秒內(nèi)即可確定并將測(cè)量結(jié)果顯示給用戶。此數(shù)值與 VNA 的 S11 和 S22 反射測(cè)量結(jié)果非常匹配。
研發(fā)過(guò)程中用 VNA 和 QO 裝置進(jìn)行的測(cè)量結(jié)果，現(xiàn)在可以直接與QAR的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比對(duì)。本系統(tǒng)仍然利用微波成像技術(shù)，但天線孔徑更小，因此對(duì)定位誤差的敏感度較低，比VNA裝置更加適合于生產(chǎn)環(huán)境。即使樣品定位稍有公差，QAR-K50軟件也能夠自行檢測(cè)正確的測(cè)量區(qū)域，并為操作員提供光學(xué)反饋。現(xiàn)在，QAR將適用于均一性分析的高分辨率圖像（QAR-K10軟件） 與穩(wěn)健易用的反射測(cè)量相結(jié)合。以QAR-K50軟件選件所得的測(cè)量值，可直接相當(dāng)于 VNA 在 QO 設(shè)置中提供的結(jié)果。
OEM整車廠和一級(jí)供應(yīng)商通過(guò)新的 QAR-K50 單一天線集群測(cè)量軟件，以非破壞性的、二維的方式進(jìn)行測(cè)量，并能得到非常接近于以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 （VNA） 和準(zhǔn)光學(xué) （QO） 裝置所獲得的測(cè)量結(jié)果。此外，用戶還將從 QAR的直觀操作理念中獲益。
QAR 是一套適用于雷達(dá)罩和保險(xiǎn)杠的測(cè)試與驗(yàn)證的毫米波成像系統(tǒng)。得益于其出眾的性能、速度、質(zhì)量以及直觀的操作，該系統(tǒng)成為一套完美的工具，應(yīng)用范圍覆蓋從76 GHz到81 GHz的雷達(dá)罩材料和集成測(cè)試，包括從研發(fā)、生產(chǎn)到驗(yàn)證的各個(gè)環(huán)節(jié)。
高空間分辨率是以在入射角方面具有更大的擴(kuò)展為代價(jià)的。典型的雷達(dá)傳感器具有一定的視場(chǎng)（FOV），例如全范圍雷達(dá)（FRR）是±10度，而短距離雷達(dá)（SRR）是±60度。根據(jù)材料表征技術(shù)，雷達(dá)罩的反射參數(shù)主要以垂直入射角來(lái)定義，因?yàn)檫@些參數(shù)可以使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）進(jìn)行測(cè)量。QAR-K50軟件選件即基于這個(gè)主題。
將QAR提供的結(jié)果與使用標(biāo)準(zhǔn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 （VNA） 和準(zhǔn)光學(xué) （QO） 裝置測(cè)量的結(jié)果進(jìn)行比較，利用QAR所用的較大孔徑，能夠觀察到并解釋測(cè)試對(duì)象的某些誤差。
這就是QAR-K50軟件選件發(fā)揮效力之處。它會(huì)自動(dòng)檢測(cè)材料樣本中的最高反射和測(cè)試區(qū)域的平均值。反射區(qū)域的平均值在 7 秒內(nèi)即可確定并將測(cè)量結(jié)果顯示給用戶。此數(shù)值與 VNA 的 S11 和 S22 反射測(cè)量結(jié)果非常匹配。
研發(fā)過(guò)程中用 VNA 和 QO 裝置進(jìn)行的測(cè)量結(jié)果，現(xiàn)在可以直接與QAR的測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比對(duì)。本系統(tǒng)仍然利用微波成像技術(shù)，但天線孔徑更小，因此對(duì)定位誤差的敏感度較低，比VNA裝置更加適合于生產(chǎn)環(huán)境。即使樣品定位稍有公差，QAR-K50軟件也能夠自行檢測(cè)正確的測(cè)量區(qū)域，并為操作員提供光學(xué)反饋。現(xiàn)在，QAR將適用于均一性分析的高分辨率圖像（QAR-K10軟件） 與穩(wěn)健易用的反射測(cè)量相結(jié)合。以QAR-K50軟件選件所得的測(cè)量值，可直接相當(dāng)于 VNA 在 QO 設(shè)置中提供的結(jié)果。
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