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淺聊聲功率(續(xù))

2021-10-22 19:13:05·  來源:海德聲科 HEAD acoustics  
 
通過《淺聊聲功率》一文,我們熟悉了聲功率的定義、基本計(jì)算方法和物理意義。聲功率是一個(gè)獨(dú)立于環(huán)境,只與聲源本身相關(guān)的客觀聲學(xué)參量。工程師可以通過聲功率計(jì)
通過《淺聊聲功率》一文,我們熟悉了聲功率的定義、基本計(jì)算方法和物理意義。聲功率是一個(gè)獨(dú)立于環(huán)境,只與聲源本身相關(guān)的客觀聲學(xué)參量。工程師可以通過聲功率計(jì)算測(cè)量獲取聲源輻射噪聲的大小和特性,同時(shí)也可以結(jié)合聲場(chǎng)環(huán)境與人的主觀感受來綜合評(píng)估聲源、主體人和環(huán)境三者關(guān)系。

這期我們梳理了關(guān)于聲功率測(cè)試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),主要從聲壓法、聲強(qiáng)法和應(yīng)用場(chǎng)景三方面來描述,重點(diǎn)介紹聲壓法中最常用的反射面工程法和聲強(qiáng)法中的掃描法。



反射面工程法-ISO3744(GBT3767)
該方法運(yùn)用在自由場(chǎng)(室內(nèi)或室外)有反射面的測(cè)量環(huán)境,包括穩(wěn)態(tài)、非穩(wěn)態(tài)、起伏和促發(fā)聲等。理想的測(cè)試環(huán)境是開闊空間或空曠的室外,且環(huán)境背景噪聲的所有頻帶至少低于被測(cè)聲源6dB(最好15dB以上)。反射工程法試驗(yàn)和計(jì)算流程如下:


定義基準(zhǔn)體:為便于選擇測(cè)量面的形狀和尺寸,應(yīng)確立基準(zhǔn)體,一個(gè)包圍了被測(cè)聲源的最小平行六面體,同時(shí)定義基準(zhǔn)體和反射面組成的坐標(biāo)系,并根據(jù)反射面與基準(zhǔn)體尺寸計(jì)算聲源尺寸
。




選擇測(cè)量面:測(cè)量面是包絡(luò)基準(zhǔn)體、并終止于反射面、面積為S的假想平面,用來定位傳聲器并測(cè)量聲壓級(jí)。測(cè)量面應(yīng)為下列4種形狀之一:
  1. 半徑為r的半球或1/4球,并規(guī)定了傳聲器的具體位置,詳細(xì)參見ISO3744-附錄B;
  2. 與基準(zhǔn)體平行的六面體,每條邊與對(duì)應(yīng)基準(zhǔn)體的邊之間距離為d,詳細(xì)參見ISO3744-附錄C;
  3. 直徑為2R,高度為h的圓柱體、半圓柱體或1/4圓柱體,詳細(xì)參見ISO3744-附錄D;
  4. 兩部分的結(jié)合體,每一部分可以是半球、矩形或圓柱。
時(shí)間平均聲壓級(jí)計(jì)算:



根據(jù)傳聲器位置在測(cè)量表面分布情況,分兩種計(jì)算方式:
  1. 均勻分布時(shí)



b. 不均勻分布時(shí)



其中
分別為各測(cè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)測(cè)量面面積和總測(cè)量面積。
背景噪聲修正K1:



為測(cè)試音和背景噪聲聲壓級(jí)之差(確認(rèn)測(cè)點(diǎn)分布是否均勻):
,則K1=0
,則

,則K1=1.3dB
環(huán)境影響修正K2兩種估算方法:
  1. 根據(jù)參考聲源絕對(duì)比較法



指未經(jīng)環(huán)境修正的標(biāo)準(zhǔn)聲源聲功率,
指測(cè)試氣象條件下的標(biāo)準(zhǔn)聲功率級(jí)。
b. 通過房間吸聲確認(rèn)環(huán)境修正


S表示測(cè)量面的面積,A表示房間等效吸聲面積。
(等效吸聲面積A可以用A計(jì)權(quán)近似法、混響時(shí)間法、雙表面法,詳細(xì)參照ISO3744-附錄A。)

聲功率級(jí)計(jì)算



表示測(cè)量面面積,
=1參考面積。
在ArtemiS SUITE中可以快速設(shè)置各種標(biāo)準(zhǔn)和參數(shù),并一鍵計(jì)算,大大提高工程師的效率:



聲強(qiáng)掃描法-9614-2(GBT16404.2)
該方法用聲強(qiáng)探頭沿聲源封閉包絡(luò)面的規(guī)定路線連續(xù)移動(dòng),以對(duì)測(cè)量面的法向聲強(qiáng)進(jìn)行測(cè)量為基礎(chǔ),將聲強(qiáng)與對(duì)應(yīng)的面元矢量在整個(gè)包絡(luò)面進(jìn)行積分就能直接得到聲功率。相比于離散點(diǎn)法,掃描法能獲得包絡(luò)面更完整的聲強(qiáng)分布信息,但對(duì)于掃描的路徑和速度有一些基本要求。



定義測(cè)量面
  1. 至少定義四個(gè)測(cè)量面元(除反射面外,反射面混響吸聲系數(shù)小于0.06);
  2. 測(cè)量表面上所有位置的最大時(shí)間平均風(fēng)速或氣流速度低于4m/s;
  3. 每個(gè)面元應(yīng)考慮極容易又方便地按照恒定的速度和均勻的線密度進(jìn)行掃描并保持探頭始終與測(cè)量面元垂直。



測(cè)量面掃描過程
  1. 掃描密度為相鄰掃描線平均間隔的倒數(shù);
  2. 每單個(gè)面元上任何一次掃描的持續(xù)時(shí)間不應(yīng)小于20s;
  3. 用探頭測(cè)得聲源系統(tǒng)產(chǎn)生的外部聲強(qiáng)級(jí)至少比測(cè)量面低20dB;
  4. 手動(dòng)掃面速度應(yīng)在0.1-0.5m/s范圍內(nèi),機(jī)械掃描速度在0-1m/s內(nèi);



聲功率計(jì)算
  1. 面元局部聲功率計(jì)算



表示第i個(gè)面元的局部聲功率,
表示第i個(gè)測(cè)量面平均法向聲強(qiáng)均值,
表示第i個(gè)面元面積,
表示i面元上兩次掃描測(cè)得聲強(qiáng)值

b. 噪聲源聲功率級(jí)計(jì)算



表示測(cè)量面元總數(shù),
表示第i個(gè)面元局部聲功率,
表示基準(zhǔn)聲功率(=10^-12W)。
在ArtemiS SUITE中集成了聲強(qiáng)的離散點(diǎn)法和掃描法,流程化的測(cè)試分析讓工程師試驗(yàn)和分析得心應(yīng)手:



應(yīng)用場(chǎng)景
聲強(qiáng)法:不需要特定環(huán)境且靈活性強(qiáng),試驗(yàn)受聲場(chǎng)與背景噪聲干擾較小,對(duì)測(cè)量表面形狀要求不高且在近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)可直接得到結(jié)果,但測(cè)試時(shí)會(huì)受流場(chǎng)壓力脈動(dòng)的干擾(如風(fēng)扇氣流等)。
聲壓法:計(jì)算方法成熟,對(duì)流場(chǎng)壓力脈動(dòng)的干擾不敏感,測(cè)試成本較低,但需要特定聲學(xué)環(huán)境,對(duì)背景噪聲要求較高。
各個(gè)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比也可參見下表。

 
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