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新思科技快速軟錯誤分析技術(shù)提高汽車功能安全
2019-01-10 20:26:06· 來源：新思科技
SpyGlass DFT ADV根據(jù)軟錯誤產(chǎn)生的影響，計算ISO 26262單點故障指標（SPFM）RTL級或門級快速靜態(tài)分析可確保對設(shè)計進度的影響最小生成對SPFM產(chǎn)生負面影響的設(shè)計模
SpyGlass DFT ADV根據(jù)軟錯誤產(chǎn)生的影響，計算ISO 26262單點故障指標（SPFM）
RTL級或門級快速靜態(tài)分析可確保對設(shè)計進度的影響最小
生成對SPFM產(chǎn)生負面影響的設(shè)計模塊和寄存器的有序列表，可實現(xiàn)自動、高效的設(shè)計提升
使用IC Compiler II實現(xiàn)基于分析的變更并利用Formality進行驗證，確保最高效、最穩(wěn)健的設(shè)計變更
新思科技（Synopsys, Inc.，納斯達克股票市場代碼：SNPS）近日宣布，在其SpyGlass® DFT ADV工具中正式推出了新的軟錯誤分析功能。這種分析功能生成的輸出，能夠直接指導高效的設(shè)計變更，從而以最低成本實現(xiàn)ISO 26262功能安全目標指標的提升。分析可以在RTL級或門級網(wǎng)表的設(shè)計流程早期執(zhí)行，從而最大限度地減少對設(shè)計進度的影響。就算是規(guī)模最大的設(shè)計，分析也只需幾個小時。SpyGlass DFT ADV完全通過ISO 26262認證，支持用于汽車設(shè)計。
由軟錯誤引起的瞬態(tài)故障可能會導致安全關(guān)鍵電子設(shè)備運行期間發(fā)生災難性故障。ISO 26262功能安全標準所定義的SPFM中反映了避免此類故障發(fā)生的概率。標準中，針對每個定義的汽車安全等級，規(guī)定了必需的最低SPFM值。軟錯誤的主要影響是寄存器狀態(tài)意外改變，因此提高設(shè)計的SPFM值的常用方法是使用容錯寄存器，如使用三模冗余觸發(fā)器表決的方法。使用這類寄存器必須仔細挑選，以使面積代價最小化。
“解決軟錯誤效應是實現(xiàn)設(shè)計必要功能安全級別的關(guān)鍵一環(huán)。通過SpyGlass DFT ADV提供的快速指標分析和觸發(fā)器識別功能，我們能夠達到必需的ISO 26262 SPFM級別，同時滿足嚴格的面積成本限制和設(shè)計周轉(zhuǎn)時間目標。”
Akio Hirata
松下技術(shù)與產(chǎn)品開發(fā)中心
總工程師
SpyGlass DFT ADV工具可在設(shè)計周期早期計算SPFM指標?；谛盘柛怕蕚鞑サ莫毺仂o態(tài)分析方法可準確地估算設(shè)計任何部分的SPFM指標。通過利用此方法，設(shè)計團隊有能力識別并有效解決SPFM熱點。在最低級別，根據(jù)每個觸發(fā)器對SPFM損耗的貢獻來生成設(shè)計的觸發(fā)器列表并對其排序。然后，可以輕松地確定，要達到期望的SPFM值，至少需要將多少常規(guī)觸發(fā)器替換為容錯觸發(fā)器。確定具體數(shù)量后，即可根據(jù)基于所生成的最少列表在布局布線流程中執(zhí)行觸發(fā)器替換。將新思科技的Test Fusion技術(shù)與IC Compiler™II布局布線系統(tǒng)組合使用時，還可以無縫地實現(xiàn)進一步的優(yōu)化，如確保添加的三模冗余觸發(fā)器之間留有最小觸發(fā)器間距，以避免發(fā)生多位翻轉(zhuǎn)事件。隨后可以使用Formality®等效性檢查功能來驗證所有變更，以確保設(shè)計一致性?；蛘?，可以使用其他方法來管理導致SPFM總損耗的較大邏輯塊，如添加冗余模塊或添加安全監(jiān)視器。設(shè)計完成后，可以使用基于仿真的故障注入方法（如新思科技Z01X™功能安全保障解決方案提供的方法）來執(zhí)行最終的SPFM指標驗證。
“用戶越來越關(guān)注在設(shè)計中能否達到必要的功能安全級別。我們將繼續(xù)專注于提供相關(guān)解決方案，幫助用戶達到必要的安全指標，同時將對其設(shè)計和整體開發(fā)進度的影響降至最低。”
Steve Pateras
新思科技芯片設(shè)計事業(yè)部
營銷高級總監(jiān)
RTL級或門級快速靜態(tài)分析可確保對設(shè)計進度的影響最小
生成對SPFM產(chǎn)生負面影響的設(shè)計模塊和寄存器的有序列表，可實現(xiàn)自動、高效的設(shè)計提升
使用IC Compiler II實現(xiàn)基于分析的變更并利用Formality進行驗證，確保最高效、最穩(wěn)健的設(shè)計變更
新思科技（Synopsys, Inc.，納斯達克股票市場代碼：SNPS）近日宣布，在其SpyGlass® DFT ADV工具中正式推出了新的軟錯誤分析功能。這種分析功能生成的輸出，能夠直接指導高效的設(shè)計變更，從而以最低成本實現(xiàn)ISO 26262功能安全目標指標的提升。分析可以在RTL級或門級網(wǎng)表的設(shè)計流程早期執(zhí)行，從而最大限度地減少對設(shè)計進度的影響。就算是規(guī)模最大的設(shè)計，分析也只需幾個小時。SpyGlass DFT ADV完全通過ISO 26262認證，支持用于汽車設(shè)計。
由軟錯誤引起的瞬態(tài)故障可能會導致安全關(guān)鍵電子設(shè)備運行期間發(fā)生災難性故障。ISO 26262功能安全標準所定義的SPFM中反映了避免此類故障發(fā)生的概率。標準中，針對每個定義的汽車安全等級，規(guī)定了必需的最低SPFM值。軟錯誤的主要影響是寄存器狀態(tài)意外改變，因此提高設(shè)計的SPFM值的常用方法是使用容錯寄存器，如使用三模冗余觸發(fā)器表決的方法。使用這類寄存器必須仔細挑選，以使面積代價最小化。
“解決軟錯誤效應是實現(xiàn)設(shè)計必要功能安全級別的關(guān)鍵一環(huán)。通過SpyGlass DFT ADV提供的快速指標分析和觸發(fā)器識別功能，我們能夠達到必需的ISO 26262 SPFM級別，同時滿足嚴格的面積成本限制和設(shè)計周轉(zhuǎn)時間目標。”
Akio Hirata
松下技術(shù)與產(chǎn)品開發(fā)中心
總工程師
SpyGlass DFT ADV工具可在設(shè)計周期早期計算SPFM指標?；谛盘柛怕蕚鞑サ莫毺仂o態(tài)分析方法可準確地估算設(shè)計任何部分的SPFM指標。通過利用此方法，設(shè)計團隊有能力識別并有效解決SPFM熱點。在最低級別，根據(jù)每個觸發(fā)器對SPFM損耗的貢獻來生成設(shè)計的觸發(fā)器列表并對其排序。然后，可以輕松地確定，要達到期望的SPFM值，至少需要將多少常規(guī)觸發(fā)器替換為容錯觸發(fā)器。確定具體數(shù)量后，即可根據(jù)基于所生成的最少列表在布局布線流程中執(zhí)行觸發(fā)器替換。將新思科技的Test Fusion技術(shù)與IC Compiler™II布局布線系統(tǒng)組合使用時，還可以無縫地實現(xiàn)進一步的優(yōu)化，如確保添加的三模冗余觸發(fā)器之間留有最小觸發(fā)器間距，以避免發(fā)生多位翻轉(zhuǎn)事件。隨后可以使用Formality®等效性檢查功能來驗證所有變更，以確保設(shè)計一致性?；蛘?，可以使用其他方法來管理導致SPFM總損耗的較大邏輯塊，如添加冗余模塊或添加安全監(jiān)視器。設(shè)計完成后，可以使用基于仿真的故障注入方法（如新思科技Z01X™功能安全保障解決方案提供的方法）來執(zhí)行最終的SPFM指標驗證。
“用戶越來越關(guān)注在設(shè)計中能否達到必要的功能安全級別。我們將繼續(xù)專注于提供相關(guān)解決方案，幫助用戶達到必要的安全指標，同時將對其設(shè)計和整體開發(fā)進度的影響降至最低。”
Steve Pateras
新思科技芯片設(shè)計事業(yè)部
營銷高級總監(jiān)
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